中国航空发动机集团简介、直属单位与主营业务
2022年04年24日
航空产业网 2024-04-09
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北京航空航天大学申请一项名为"一种复杂电磁环境下电力芯片的加速老化测试方法"的专利，申请日期为2024-03-04。
专利摘要显示，本发明涉及一种复杂电磁环境下电力芯片的加速老化测试方法，属于集成电路可靠性试验技术领域。解决了现有技术中的无法测试在复杂电磁环境下的电力芯片、测试准确性低的问题。本发明的方法根据电力芯片使用环境的特点，提取出电磁、湿度、温度三种应力作为加速老化试验的条件，将传统可靠性试验中的温湿加速老化试验与电磁兼容试验中集成电路抗扰度试验相结合，设计了针对复杂电磁环境下电力芯片的加速老化试验方法，解决芯片在加速老化试验中检测不准确的问题。
查看详情 : 一种复杂电磁环境下电力芯片的加速老化测试方法
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