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2022年04年24日
航空产业网 2024-05-03
西安应用光学研究所申请一项名为"基于双光路动态耦合实时调测系统的红外辐射测试方法"的专利,申请日期为2023-12-07。
专利摘要显示,本发明公开了一种基于双光路动态耦合实时调制测试系统的红外辐射测试方法,属于红外辐射计量技术领域。本方法采用凝固点黑体调节测试系统辐射信号输入的双光路通道平衡,采用反射式斩波器使信号动态耦合,实现双路红外辐射的实时调制比对,环境温度变化、探测器非线性响应、光学系统的衰减等干扰相同,测量主光路一致,透射式光学系统设计减少了光学元件数量,尽可能地降低了测量时的系统误差,满足(50~1000)℃中温黑体的高准确度计量测试需求。主要用途包括校准并测量中温黑体的有效发射率、均匀性、稳定度等性能参数。本方法的光路有更少的光学元件、更低的调试难度、校准数据有更高的准确度。
查看详情 : 基于双光路动态耦合实时调测系统的红外辐射测试方法
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