航天五院申请一种航天器用抗辐照VDMOS产品特性表征方法专利

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航空产业网 2024-07-26

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中国空间技术研究院申请一项名为"一种航天器用抗辐照VDMOS产品特性表征方法"的专利,申请日期为2024-04-11。

专利摘要显示,本发明涉及一种航天器用抗辐照VDMOS产品特性表征方法,包括:确定航天器用抗辐照VDMOS产品电特性参数及测试条件;确定航天器用抗辐照VDMOS产品抗辐照特性参数及条件;确定航天器用抗辐照VDMOS产品可靠性指标;确定航天器用抗辐照VDMOS产品外形尺寸参数及重量;根据确定出的电特性参数及测试条件、抗辐照特性参数及条件、可靠性指标、外形尺寸参数及重量,形成航天器用抗辐照VDMOS产品特性表征表单。该表征方法可有效应用于新研制的VDMOS的研制、鉴定检验、应用验证以及工程应用等阶段。

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