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2022年04年24日
航空产业网 2024-06-04
北京无线电计量测试研究所申请一项名为"基于紧缩场的雷达天线谐波乱真测量方法及装置"的专利,申请日期为2023-12-29。
专利摘要显示,本发明提供一种基于紧缩场的雷达天线谐波乱真测量方法及装置,方法包括:搭建紧缩场测试暗室,所述紧缩场测试暗室包括:反射面、馈源和馈源转台,利用焦点处高性能馈源照射高精度反射面形成平面波信号,反射面边缘的处理和微波暗室的配合以在空间测试区域创造出一个静区,所述静区用于模拟被测物在无反射的自由空间中的辐射特性;在所述紧缩场测试暗室创造的无反射的自由空间的辐射特性条件下,对待测试的雷达天线进行谐波乱真测量。本发明在紧缩场的测量暗室环境下,利用反馈面形成平面波以等效远场测试条件,有效避免了外场测试条件的复杂电磁环境干扰,使其能够准确的测量由天线端辐射发射出的谐波、乱真干扰信号。
查看详情 : 基于紧缩场的雷达天线谐波乱真测量方法及装置
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