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2022年04年24日
航空产业网 2024-05-17
上海精密计量测试研究所申请一项名为"一种IGBT寿命预测方法"的专利,申请日期为2023-12-22。
专利摘要显示,本发明公开了一种IGBT寿命预测方法,基于二次分解的数据降噪方案,利用完全集合经验模态分解(CEEMDAN)以及变分模态分解(VMD)进行数据降噪处理,具体包括如下步骤:S1、获取IGBT器件的历史退化失效特征数据,提取特征参数,划分训练集和测试集。S2、使用CEEMDAN算法将历史退化数据的训练集分解为具有不同中心频率的几个模态分量(IMF)。S3、计算各IMF的排列熵(PE)值,筛选出PE值较大的IMF。S4、对PE值较大的IMF进行VMD二次分解,分解时优化参数K和α。S5、将IMF输入GRU神经网络模型,优化模型参数,进行预测。
查看详情 : 一种IGBT寿命预测方法
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