无锡中微亿芯有限公司申请一种芯片的可测试设计方法专利

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航空产业网 2024-04-05

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无锡中微亿芯有限公司申请一项名为"一种芯片的可测试设计方法"的专利,申请日期为2023-12-29。

专利摘要显示,本申请公开了一种芯片的可测试设计方法,涉及芯片领域,该可测试设计方法对芯片内部至少一个预定位置处的资源模块,以资源模块的模块基础结构为基础将所述资源模块优化设计为双模式资源模块,设计得到内部包含双模式资源模块的芯片,然后即可利用双模式资源模块在处于直通工作模式时形成的输入端至输出端的直通路径来构建测试输入输出端口与待测试资源模块之间的测试路径且不影响测试覆盖率,该可测试设计方法提升了芯片的可测试性能,保证了芯片内资源模块的测试需求,满足芯片的测试需求并提升测试效率。

查看详情 : 一种芯片的可测试设计方法

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