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2022年04年24日
航空产业网 2024-03-26
北京微电子技术研究所申请一项名为"评估可重构芯片单粒子功能错误敏感区间的方法及系统"的专利,申请日期为2023-10-30。
专利摘要显示,本发明公开了一种评估可重构芯片单粒子功能错误敏感区间的方法,包括:使可重构芯片执行一个典型测试程序;分别对可重构芯片中的各功能模块进行激光辐照试验,获取各功能模块的单粒子功能错误饱和截面;使可重构芯片执行下一个典型测试程序,并重复上述步骤,直至执行完所有的典型测试程序;根据各典型测试程序下的单粒子功能错误饱和截面,得到各功能模块的单粒子功能错误敏感区间。本发明还公开了评估可重构芯片单粒子功能错误敏感区间的系统,包括程控电源模块、上位机控制中心模块和控制区模块。本发明能够得到可重构芯片的单粒子功能错误敏感区间,对于可重构芯片整体性能的评估提供重要支撑。
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