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2022年04年24日
航空产业网 2024-10-22
上海航天设备制造总厂有限公司申请一项名为"火箭破裂膜片飞秒激光加工刻痕有效深度测定方法及系统"的专利,申请日期为2024-09-18。
专利摘要显示,本发明提供了一种火箭破裂膜片飞秒激光加工刻痕有效深度测定方法及系统,属于长度、厚度或类似线性尺寸的计量技术领域,包括膜片刻痕形貌的测量、数据处理和有效深度的计算。本发明通过对破裂膜片微小梯形刻痕进行共聚焦显微测量,根据测量点云数据进行数据处理和统计分析,确定刻痕顶和刻痕底的高度差,从而计算出刻痕的有效深度;解决了破裂膜片有效刻痕深度的准确测量问题,能够用于膜片性能的精确预测,具有重要的工程价值。
查看详情 : 火箭破裂膜片飞秒激光加工刻痕有效深度测定方法及系统
2022年04年24日
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