航天二院207所申请一种用于表面矩形开口结构测试的低散射载体专利

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航空产业网 2024-04-02

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北京环境特性研究所申请一项名为"一种用于表面矩形开口结构测试的低散射载体"的专利,申请日期为2024-01-03。

专利摘要显示,本发明涉及一种用于表面矩形开口结构测试的低散射载体,涉及测试领域,包括连接在载体上表面上端的矩形开口和固连在载体上表面下部的载体下表面,载体上表面和载体下表面均为前端尖锐、中部宽大和尾部收缩为圆弧的结构,载体上表面和载体下表面前端向下弯折且采用直边后掠的处理,矩形开口位于载体上表面中部且向下凹陷,本发明具有可以满足表面矩形开口结构在宽频段、多俯仰角、不同极化下的RCS测试的优点。

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